·  自動控制蝕刻溫度和蝕刻過程； 

·  具有顯示蝕刻溫度狀態(tài)； 

·  全自動讀取徑跡探測器信息，包括自動識別探測器編碼、自動測量探測器徑跡計(jì)數(shù)、自動識別有效徑跡、

   可自動對焦不同徑跡深度、標(biāo)記徑跡的**位置； 

·  進(jìn)行二次分析和統(tǒng)計(jì)：*多對 32000 個(gè)視野圖片； 

·  可通過軟件實(shí)時(shí)顯示識別圖像及徑跡位置；

·  并能通過專門的數(shù)據(jù)庫查看和計(jì)算測量結(jié)果，測量結(jié)果可輸出作為外儲文件

·  放大倍數(shù)：≥100倍

·  徑跡識別能力：≥160 tracks/mm²

·  徑跡分析區(qū)域：≥80mm（1cm×1cm，CR39）

·  連續(xù)工作能力：≥150chips/h（1cm×1cm，CR39 

·  識別本底：0.2tracks/mm2 α測量范圍：150~2000kBq h/m³ 

·  可探測中子范圍：20meV ~20MeV

·  探測下限：≤0.2mSv(241Am-Be或252Cf源)